电子探针、显微照相方法简介

　　电子探针

　　本实验室有日本岛津公司出产的EPMA-1600型电子探针仪器。该仪器采用钨丝热发射电子枪，将高度聚焦的电子束聚焦在矿物上，激发组成矿物元素的特征X射线。用分光器或检波器测定荧光X射线的波长，并将其强度与标准样品的强度对比，或根据不同强度校正直接计算出组分含量。测定的最小范围直径为1μm左右。可同时满足对样品的SE、BSE物象分析和波谱、能谱成分分析的要求。分析元素从原子序数3(锂)至92(铀)。分析过程不损坏样品，全成分分析误差小于百分之二。

　　成分分析可采用三种基本工作方式：点分析用于选定点的全谱定性分析或定量分析，以及对其中所含元素进行定量分析；线分析用于显示元素沿选定直线方向上的浓度变化；面分析用于观察元素在选定微区内浓度分布。

　　元素分析范围：Z>4。其中，波谱：Be~U,能谱：Na~U。

　　样品要求：表面抛光的岩石矿物样品，标准探针片或者矿物靶。

　　电子显微照相

　　本实验室使用配备有美国Gaton公司MONOCL4阴极发光仪的日本岛津公司SS550型电子显微镜，可进行高分辨SE、BSE、CL电子显微分析。

　　扫描电子显微镜主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，对二次电子、背散射电子的采集，可得到有关物质微观形貌的信息。阴极发光是固体物质的一种表面物理荧光现象，固体样品的表面在阴极射线轰击下，由电能转化成光辐射后，产生的一种发光现象。

　　样品要求：表面抛光的岩石矿物，标准矿物靶。